阿片类药物使用障碍（OUD）是美国致病和致死的主要原因之一。研究显示，OUD与大脑结构上的改变相关，尤其是灰质体积和皮层厚度的下降。长效纳曲酮（XR-NTX）作为μ-阿片受体拮抗剂，广泛用于治疗OUD，能有效减少渴望和预防复发。然而，关于XR-NTX对大脑结构的影响仍缺乏充分研究。皮层厚度是神经结构完整性的关键指标，XR-NTX对大脑皮层厚度的潜在影响有待探索。本研究旨在通过纵向结构磁共振成像（sMRI），研究XR-NTX对OUD患者大脑皮层厚度的影响，尤其是内侧前额叶皮层（mPFC）和前扣带皮层（ACC）这些富含μ-阿片受体（MOR）的区域。

研究招募了47名经过解毒的OUD患者和56名无阿片使用史的对照组。OUD患者接受了长效纳曲酮治疗，并在治疗前（基线）和首次注射XR-NTX后约11天（治疗中）分别进行结构磁共振成像评估。部分患者还在第三次注射后约44天进行了随访评估。皮层厚度的变化通过高级归一化工具（ANTs）进行分析。为了评估XR-NTX诱导的皮层厚度变化是否与MOR的结合潜力相关，研究还使用了[¹¹C]羧芬太尼正电子发射断层扫描（PET）数据，分析不同脑区MOR结合潜力与皮层厚度变化之间的关系。

图1：皮质厚度随时间的变化

在OUD患者中，从基线到治疗中，内侧前额叶和前扣带皮层的厚度显著减少。而在基线时，这些区域的皮层厚度与无阿片使用史的对照组相似，表明这种厚度减少是治疗引起的而非OUD引起的。此外，皮层厚度的减少与渴望的减少呈正相关，即皮层厚度下降越明显，渴望减轻的幅度越大。多项回归分析显示，皮层厚度的减少与这些区域MOR结合潜力的高低呈曲线关系，MOR结合潜力较高的区域厚度变化更显著。

图2：皮层厚度变化与阿片类药物渴求

研究表明，XR-NTX治疗OUD时，内侧前额叶和前扣带皮层的厚度显著减少，这种变化与患者渴望的减轻相关，提示XR-NTX可能通过影响这些富含MOR的大脑区域，发挥其临床治疗效果。尽管这种皮层厚度的变化未恢复至对照组水平，但反映了治疗带来的神经可塑性。该研究首次展示了XR-NTX对OUD患者大脑结构的影响，为开发新的OUD治疗方法提供了重要的神经机制见解。

原始出处：
Shi, Z., Li, X., Todaro, D. R., Cao, W., Lynch, K. G., Detre, J. A., Loughead, J., Langleben, D. D., & Wiers, C. E. (2024). Medial prefrontal neuroplasticity during extended-release naltrexone treatment of opioid use disorder – a longitudinal structural magnetic resonance imaging study. *Translational Psychiatry, 14*(360). https://doi.org/10.1038/s41398-024-03061-0